TO20低對比度細節(jié)測試模體
產(chǎn)品名稱：TO20低對比度細節(jié)測試模體
產(chǎn)品編號：20250220-10
產(chǎn)品質保：12個月
產(chǎn)品簡介：TO20和TO16低對比度細節(jié)測試模體是用于快速定量評估X射線影像系統(tǒng)成像質量的關鍵工具，兩者均采用直徑250mm、厚度10mm的圓板結構，板內(nèi)嵌有12組不同尺寸的細節(jié)陣列，每組包含12個不同直徑的圓形細節(jié)，共計144個測試點。細節(jié)直徑范圍從0.25mm至11mm，對比度在75kV電壓及1.5mm銅濾過條件下覆蓋0.0014至0.924的寬泛區(qū)間，能夠模擬從極微弱到顯著差異的成像條件。TO16型模體專為計算機數(shù)字X線攝影系統(tǒng)（CR/DR）設計，通過分析系統(tǒng)對低對比度細節(jié)的閾值探測能力（TCDD），直接反映設備的信噪比和低對比度分辨力，其測試結果可繪制閾值檢測指數(shù)曲線，用于綜合評價設備性能。而TO20型模體在保留TO16基礎參數(shù)的同時，擴展了應用場景至透視和血管造影系統(tǒng)，支持60kV、65kV、70kV、80kV等多檔電壓條件下的影像質量評估，尤其適合動態(tài)成像場景下的質量控制。兩種模體均符合WS標準，通過定期檢測可幫助放射衛(wèi)生院和質控人員結合受檢者劑量數(shù)據(jù)，實現(xiàn)圖像質量與輻射安全的雙維度優(yōu)化，例如在DR設備調試中，既能驗證檢測量子效率（DQE）的提升效果，又能評估曝光寬容度對臨床圖像的影響。其核心價值在于將主觀影像評價轉化為客觀量化指標，例如通過144個細節(jié)點的可探測性分布，定位系統(tǒng)在特定對比度或尺寸閾值下的性能瓶頸，為設備維護、參數(shù)校準及技術升級提供數(shù)據(jù)支撐。
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是否可以非標訂制：可以按照客戶要求非標定制：TO20低對比度細節(jié)測試模體
產(chǎn)品編號：20250220-10
